zur Startseite der DMG-Lib
Home  · Übersicht  · Kontakt  ·

Erweiterte Suche   Mechanismensuche

High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium

thumbnail
Dokument öffnen (benötigt JavaScript)   Dokument öffnen

Allgemeine Angaben

Autor Siewert, Frank; Buchheim, Jana; Höft, T.; Fiedler, S.; Bourenkov, G.; Cianci, M.; Signorato, R.
Erschienen  TU Ilmenau, Ilmenau, 2011
Ausgabe  
Umfang  
ISBN
Sammlungen
ab 2000
Übergeordnete Werke
 
no fulltext found 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium | 56. IWK - International Scientific Colloquium
Autor: Pufke, Michael; Hilbrunner, Falko; Diethold, Christian; Fröhlich, Thomas; Schalles, Marc; Blumröder, Götz; Augustin, Silke; Mammen, Helge; Irrgang, K.; Meiselbach, U.; Rizzuti, Sergio; Rosa, Raffaele; Tkatchenko, O.; Tkachenko, R.; Hirniak, Y.; Orest, Ivakhiv; Mushenyk, Petro; Böhm, V.; Jentzsch, Alexander; Kaufhold, Tobias; Schneider, F.; Zimmermann, Klaus; Wendt, Gudrun; Ahlers, Franz Josef; [...]
Erschienen: 2011
Verknüpfte Datensätze
Dokumente: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Permanentlinks
DMG-Lib FaviconDMG-Lib https://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=29477009
Europeana FaviconEuropeana  http://www.europeana.eu/portal/record/2020801/dmglib_handler_docum_29477009.html
Datenbereitsteller
TUITU Ilmenau  http://www.tu-ilmenau.de
Verwaltungsinformationen
Publikationsdatum 2011

×