Nanomeasuring and Nanopositioning Technologies for Precision Nanomanufacturing, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium

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ab 2000

Übergeordnete Werke

53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium | 53. IWK - International Scientific Colloquium, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband
Autor: Radkowski, Rafael; Gausemeier, Jürgen; Kleinjohann, Bernd; Richert, Willi; Adelt, Philipp; Zabel, Henning; Geinitz, Veronika; Weiß, Mathias; Kletzin, Ulf; Beyer, Peter; Zimmermann, Klaus; Braunschweig, Marion; Walkling, Hans-Peter; Jahn, Michael; Lerm, Steffen; Braunschweig, Marion; Birli, Oliver; Werner, Siegfried; Hedler, Rainer; Correns, Martin; Brückner, Peter; Lunin, Leonid S.; Bulgakow, [...]
Erschienen: 2008

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53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium

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2008

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